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光学电子可靠性设计与实验培训,可靠性培训

 
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       坚持小班授课,为保证培训效果,增加互动环节,每期人数限3到5人。
   上课时间和地点
开课地址:【上海】同济大学(沪西)/新城金郡商务楼(11号线白银路站)【深圳分部】:电影大厦(地铁一号线大剧院站) 【武汉分部】:佳源大厦【成都分部】:领馆区1号【沈阳分部】:沈阳理工大学【郑州分部】:锦华大厦【石家庄分部】:瑞景大厦【北京分部】:北京中山学院 【南京分部】:金港大厦
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   质量保障

        1、培训过程中,如有部分内容理解不透或消化不好,可免费在以后培训班中重听;
        2、课程完成后,授课老师留给学员手机和Email,保障培训效果,免费提供半年的技术支持。
        3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。

课程大纲
 

1.常用的可靠性指标
1. 常用的可靠性指标
可靠度、不可靠度、瞬时失效率、保证寿命、平均寿命、特征寿命、中位寿命、平均修复时
间、有效度。
2 概率与统计
①概率
②分布
③置信区间;
2.可靠性模型基础
3.可靠性预计
1 GJB可靠性预计法
2 广州地铁电源系统的可靠性模型和预计
4.电子可靠性设计
1. 可靠性设计的思路
设计失败的案例
2. 某型计算机可靠性设计缺陷分析
3. 降额设计
4. 储备(冗余)设计
5. 潜在通路分析
案例1 潜在通路
案例2 潜在时间
案例3 潜在标志
案例4 潜在指示
地铁上紧急按钮的潜在指示
6. 电子产品热设计
6.1 温度对电子设备可靠性的影响
6.2 电子设备热的来源
6.3 热设计的目的
6.4 热设计的程序
6.5 热设计中元器件布局案例

案例
6.6 热设计中元器件的安装原则

安装失误案例
6.7 鼓风机的选择与安装
6.8冷却剂流道设计
6.9 改善热设计的方法及案例
案例1 密封电子设备
案例2 机载电子设备
7. 软件可靠设计技巧与管理
软件可靠设计案例
5.元器件的常见的失效模式及预防对策
① 阻容元件常见的失效模式及预防对策案例
② 二极管三极管常见的失效模式及预防对策案例
③ 机电元件常见的失效模式及预防对策案例
④ 集成电路常见的失效模式及预防对策案例
⑤ 防浪涌设计案例
⑥ 防闩锁设计案例

⑦ ESD防护案例

6.可靠性试验
1. 可靠性试验及其分类
2. 可靠性测定试验
点估计
区间估计
3. 可靠性鉴定试验
2.1 试验大纲
2.2 试验条件
2.3 试验样品

2.4 一次抽样检验方案的基本原理
2.5 案例分析
4. HALT/HASS试验
1) HALT和HASS的概念与应用范围
2) 高加速的基本原理
3) HALT/HASS试验过程及方法
4) 开展HALT和HASS的几点看法
5. 可靠性增长实验
6. 加速寿命实验
7. 可靠性实验案例介绍
案例1 已知置信度和MTBF时的实验测定
案例2 已知置信度和可靠度时的实验测定
案例3 案例加速寿命实验测定法
案例4 可靠性鉴定实验

 
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